Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Для каталогаВишнякова, С. М. Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : метод. указания к лаб. работе по курсу общей физики / С. М. Вишнякова, В. И. Вишняков. - Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. - 29 с. - ISBN 978-5-7038-3832-7. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://prior.studentlibrary.ru/book/ISBN9785703838327.html (дата обращения: 05.04.2025). - Режим доступа : по подписке.
АвторыС.М. Вишнякова, В.И. Вишняков
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Тип изданияучебно-методическое пособие
Год издания2014
ПрототипЭлектронное издание на основе: Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом : метод. указания к лаб. работе по курсу общей физики / С. М. Вишнякова, В. И. Вишняков. - М.: Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. - 29, [3] с.: ил. - ISBN 978-5-7038-3832-7.
АннотацияРассмотрены основные закономерности явления интерференции света и интерференции света в тонких пленках. Изложена методика наблюдения колец Ньютона и применения интерференционного метода для определения геометрических параметров поверхностей прозрачных тел, таких, как радиус кривизны поверхностей выпуклой и вогнутой линз, размеры воздушной полости в твердой среде. Для студентов второго курса всех специальностей МГТУ им. Н. Э. Баумана.
Downloaded 2015-03-27