Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Современные методы аналитического контроля материалов
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Введение
Правила техники безопасности при выполнении лабораторных работ
Методические указания к выполнению лабораторных работ
Лабораторная работа 1. Отбор и подготовка проб при контроле состава материалов спектральными методами анализа
Лабораторная работа 2. Определение легирующих элементов в сталях на атомно-эмиссионном спектрометре "Экспресс" с использованием многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС)
Лабораторная работа 3. Определение свинца в цветном сплаве методом атомно-абсорбционного анализа
Лабораторная работа 4. Оценка радиационной обстановки на рабочем месте. Измерение мощности эквивалентной дозы ионизирующего излучения с помощью портативного дозиметра
Лабораторная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"
Лабораторная работа 6. Экспресс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobile
Лабораторная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"абораторная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"раторная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"аторная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"рная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"ная работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"ая работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"работа 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"абота 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"бота 5. Качественный анализ вторичного сырья на рентгеновском флуоресцентном спектрометре с волновой дисперсией "СПЕКТРОСКАН"Экспресс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileкспресс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileспресс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileесс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileсс-анализ объектов металлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileллургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileлургического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileргического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileгического производства на портативном анализаторе X-50 Mobileеского производства на портативном анализаторе X-50 Mobileского производства на портативном анализаторе X-50 Mobileкого производства на портативном анализаторе X-50 Mobileо производства на портативном анализаторе X-50 Mobile производства на портативном анализаторе X-50 Mobileпроизводства на портативном анализаторе X-50 Mobileдства на портативном анализаторе X-50 Mobileства на портативном анализаторе X-50 Mobileтва на портативном анализаторе X-50 Mobileа на портативном анализаторе X-50 Mobile на портативном анализаторе X-50 Mobileа портативном анализаторе X-50 Mobileортативном анализаторе X-50 Mobileртативном анализаторе X-50 Mobileтивном анализаторе X-50 Mobileивном анализаторе X-50 Mobileвном анализаторе X-50 Mobileм анализаторе X-50 Mobile анализаторе X-50 Mobileанализаторе X-50 Mobile/divvivCont-Misis_494-SCN0010nt-Misis_494-SCN0010sis_494-SCN0010s_494-SCN0010SCN0010N0010010or.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.html.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmltudentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmltlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmlrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmlru/ru/doc/Misis_494-SCN0010.html/ru/doc/Misis_494-SCN0010.htmlc/Misis_494-SCN0010.htmlMisis_494-SCN0010.htmlsis_494-SCN0010.html4-SCN0010.htmlSCN0010.htmlN0010.htmlTCont-row-doc-aont-row-doc-aow-doc-a-doc-aта 7. Автоматизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710а 7. Автоматизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710. Автоматизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710Автоматизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710оматизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710матизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710атизированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710зированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710ированный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710рованный фазовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710зовый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710овый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710вый анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710 анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710анализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710нализ образцов на дифрактометре Philips PW-1710из образцов на дифрактометре Philips PW-1710з образцов на дифрактометре Philips PW-1710бразцов на дифрактометре Philips PW-1710разцов на дифрактометре Philips PW-1710азцов на дифрактометре Philips PW-1710ов на дифрактометре Philips PW-1710в на дифрактометре Philips PW-1710 на дифрактометре Philips PW-1710ктометре Philips PW-1710тометре Philips PW-1710ометре Philips PW-1710етре Philips PW-1710тре Philips PW-1710divvlassssTCont-row-docont-row-docow-doc-dococisis_494-SCN0011is_494-SCN0011_494-SCN0011SCN0011N0011011reffhttps://prior.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmltps://prior.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmls://prior.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmlrior.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmlor.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.html.studentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmlentlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmltlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0011.htmls=Cont-row-doc-ant-row-doc-a-row-doc-adoc-ac-aaторная работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSорная работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSрная работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSая работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSя работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WS работа 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSбота 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSота 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WS 8. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WS. Комплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSКомплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSплексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSлексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSексный элементный и фазовый анализ объектов металлургического производства на рентгеновском спектрометре со встроенной системой дифракции ARL 9900 WSфракции ARL 9900 WSракции ARL 9900 WSакции ARL 9900 WSции ARL 9900 WSии ARL 9900 WSTCont-row-docont-row-doct-row-doc-dococентгенорадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6нтгенорадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6тгенорадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6генорадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6норадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6орадиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6адиометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6диометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6иометрический анализ цветного сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6го сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6о сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6 сплава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6плава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6лава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6ава на рентгеновском бескристальном анализаторе БРА-6вском бескристальном анализаторе БРА-6ском бескристальном анализаторе БРА-6ком бескристальном анализаторе БРА-6 бескристальном анализаторе БРА-6ескристальном анализаторе БРА-6скристальном анализаторе БРА-6нализаторе БРА-6ализаторе БРА-6лизаторе БРА-6изаторе БРА-6заторе БРА-6аторе БРА-6торе БРА-6 entlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0013.htmlntlibrary.ru/ru/doc/Misis_494-SCN0013.htmlu/ru/doc/Misis_494-SCN0014.htmlc/Misis_494-SCN0014.htmlторная работа 11. Анализ состава поверхности, локальный анализорная работа 11. Анализ состава поверхности, локальный анализая работа 11. Анализ состава поверхности, локальный анализя работа 11. Анализ состава поверхности, локальный анализабота 11. Анализ состава поверхности, локальный анализбота 11. Анализ состава поверхности, локальный анализота 11. Анализ состава поверхности, локальный анализ 11. Анализ состава поверхности, локальный анализ11. Анализ состава поверхности, локальный анализ. Анализ состава поверхности, локальный анализстава поверхности, локальный анализтава поверхности, локальный анализава поверхности, локальный анализ поверхности, локальный анализповерхности, локальный анализоверхности, локальный анализрхности, локальный анализхности, локальный анализсти, локальный анализти, локальный анализи, локальный анализокальный анализкальный анализальный анализчения коэффициентов t для случайной величины Y, имеющей распределение Стьюдента с N - 1 степенями свободыения коэффициентов t для случайной величины Y, имеющей распределение Стьюдента с N - 1 степенями свободыния коэффициентов t для случайной величины Y, имеющей распределение Стьюдента с N - 1 степенями свободы коэффициентов t для случайной величины Y, имеющей распределение Стьюдента с N - 1 степенями свободыкоэффициентов t для случайной величины Y, имеющей распределение Стьюдента с N - 1 степенями свободыпределение Стьюдента с N - 1 степенями свободы свободы
Downloaded
2020-09-14
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Оборот титула
Table of contents
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
ПРЕДИСЛОВИЕ
Глава 1. Ялтинско-Потсдамская система международных отношений
Глава 2. Основные тенденции развития СССР к 80-м годам ХХ века
Глава 3. Политика перестройки в СССР
Глава 4. Разрушение Ялтинско-Потсдамской системы международных отношений
Глава 5. Постсоветское пространство в 90-е годы XX века
Глава 6. Россия в годы президентства В.В. Путина и Д.А. Медведева
Глава 7. Развитие науки и культуры в Советском Союзе и в современной России
ХРОНОЛОГИЧЕСКИЙ УКАЗАТЕЛЬ
ССЫЛКИ НА ЭЛЕКТРОННЫЕ РЕСУРСЫ