Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Для каталогаМалышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Ч. 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов : Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В. , Скороходов Е. А. , Башков В. М. - Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 44 с. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://prior.studentlibrary.ru/book/bauman_0148.html (дата обращения: 15.04.2025). - Режим доступа : по подписке.
АвторыМалышев К.В., Скороходов Е.А., Башков В.М.
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Тип изданияучебно-методическое пособие
Год издания2007
ПрототипЭлектронное издание на основе: Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 1: Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств". - М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007. -44 с: ил..
АннотацияВ данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Downloaded 2015-04-15