Справка
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Раздел
5
/
5
Страница
21
/
85
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
-
4.1. Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
4.2. Грозовые разряды
4.3. Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
4.4. Проблемы экранирования контрольных кабелей
4.5. Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
4.6. Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
4.7. Качество напряжения в питающей сети
4.8. Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
4.8.1. Актуализация проблемы электромагнитной совместимости для современной электроэнергетики
4.8.2. Классификация и особенности преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий
4.8.3. Воздействие ПДЭВ на МУРЗ
4.8.4. Возможные пути решения проблемы защиты МУРЗ от ЭМИ
4.8.5. Повышение живучести МУРЗ
4.9. Кибербезопасность
Литература к главе IV
Close Menu
