Справка
x
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Оборот титула
Table of contents
Предисловие
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
-
5.1. Теоретическая часть
5.2. Расчетная часть
5.3. Экспериментальная часть
5.4. Контрольные вопросы
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Close Menu
Раздел
2
/
4
Страница
13
/
13
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Table of contents
Предисловие
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
-
5.1. Теоретическая часть
5.2. Расчетная часть
5.3. Экспериментальная часть
5.4. Контрольные вопросы
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+