Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Для каталогаЖу, У. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / У. Жу, Ж. Л. Уанга - Москва : Лаборатория знаний, 2017. - 601 с. - ISBN 978-5-00101-478-2. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://prior.studentlibrary.ru/book/ISBN9785001014782.html (дата обращения: 20.04.2025). - Режим доступа : по подписке.
АвторыУ. Жу, Ж.Л. Уанга
ИздательствоЛаборатория знаний
Тип изданияпрактическое пособие
Год издания2017
ПрототипЭлектронное издание на основе: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Электронный ресурс] / под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга ; пер. с англ.-3-е изд. (эл.).-Электрон. текстовые дан. (1 файл pdf : 601 с.). -М. : Лаборатория знаний, 2017.- Систем. требования: Adobe Reader XI ; экран 10". - ISBN 978-5-00101-478-2.
АннотацияВ книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Загружено 2018-02-01