Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Для каталогаМалышев, К. В. Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Ч. 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа : Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств" / Малышев К. В. , Башков В. М. , Мешков С. А. - Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2007. - 42 с. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://prior.studentlibrary.ru/book/bauman_0152.html (дата обращения: 12.04.2025). - Режим доступа : по подписке.
АвторыМалышев К.В., Башков В.М., Мешков С.А.
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Тип изданияучебно-методическое пособие
Год издания2007
ПрототипЭлектронное издание на основе: Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств". - М.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007. -42 с: ил..
АннотацияВ данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей. Ил. 33. Табл. 2.
Загружено 2015-04-15