Раздел 5 / 18

Страница 25 / 30

Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Registration

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

Table of contents

Предисловие

Словарь наиболее часто используемых аббревиатур

Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии +

Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов +

Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах -

1. Введение

1.1. Генерация рентгеновских сигналов

1.2. Детектирование сигнала рентгеновского излучения

1.3. Параметры энергодисперсионного спектрометра

1.4. Рентгеновские артефакты

2. Моделирование наноматериалов методом Монте-Карло

3. Примеры исследований

3.1. Компьютерный чип

3.2. Нанопроволока

3.3. Наночастицы

4. Выводы

Литература

Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия +

Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе +

Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур +

Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов +

Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур +

Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки +

Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства +

Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки +

Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов +

Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита +

Глава 14. Бионаноматериалы +

Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях +

Предметный указатель