Раздел 15 / 19

Страница 1 / 16

13. Повышение тестопригодноси СВТ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Registration

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Основы теории надежности

Table of contents

Принятые сокращения и обозначения

Введение

1. Показатели и пути обеспечения надежности средств вычислительной техники

2. Математический аппарат и модели надежности

3. Расчет и оценка показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых объектов

4. Показатели надежности восстанавливаемых объектов

5. Анализ надежности невосстанавливаемых многоэлементных систем

6. Анализ надежности систем со сложной структурой

7. Оперативный аппаратный контроль ВС

8. Задачи и виды технической диагностики

9. Организация диагностирования вычислительных систем на макроуровне

10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей

11. Сигнатурный анализ

12. Алгоритмы диагностирования

13. Повышение тестопригодноси СВТ

14. Построение самопроверяемых СВТ

15. Построение легкотестируемых схем

Контрольные вопросы

Список литературы