Справка
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Основы проектирования субмикронных микросхем
Оборот титула
Table of contents
Вместо предисловия - дайджест
Введение
Глава 1. Физические основы работы полевых транзисторов
+
Глава 2. Особенности конструктивно-схемотехнического проектирования субмикронных микросхем
+
Глава 3. Основные характеристики цифровых микросхем
+
Глава 4. Схемотехнические решения цифровых КМОП-микросхем
+
Глава 5. Схемотехнические решения биполярных микросхем
+
Глава 6. Схемотехнические решения БиКМОП-микросхем
+
Глава 7. Особенности проектирования радиационностойких микросхем на основе КНС и КНИ-структур
+
Глава 8. Библиотеки проектирования субмикронных микросхем - структура и особенности
+
Глава 9. Маршруты проектирования цифровых микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 10. Основы логического проектирования КМОП-микросхем с пониженным энергопотреблением
+
Глава 11. Основы проектирования кибербезопасных микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
-
12.1. Методология организации технологического тестового контроля в процессе проектирования и производства микроэлектронных изделий
12.2. Принципы организации контроля процесса изготовления микросхем с использованием тестовых структур
12.3. Прогнозирование процента выхода годных микросхем по результатам тестового контроля
12.4. Типовая структура системы тестового контроля качества технологических процессов
12.5. Основные технологические факторы, влияющие на надежность микроэлектронных изделий
Литература к главе 12
Глава 13. Основные тенденции развития, проблемы и угрозы современной микроэлектроники
+
Глава 14. Технологии корпусирования микросхем
+
Close Menu
Раздел
14
/
16
Страница
1
/
37
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Основы проектирования субмикронных микросхем
Table of contents
Вместо предисловия - дайджест
Введение
Глава 1. Физические основы работы полевых транзисторов
+
Глава 2. Особенности конструктивно-схемотехнического проектирования субмикронных микросхем
+
Глава 3. Основные характеристики цифровых микросхем
+
Глава 4. Схемотехнические решения цифровых КМОП-микросхем
+
Глава 5. Схемотехнические решения биполярных микросхем
+
Глава 6. Схемотехнические решения БиКМОП-микросхем
+
Глава 7. Особенности проектирования радиационностойких микросхем на основе КНС и КНИ-структур
+
Глава 8. Библиотеки проектирования субмикронных микросхем - структура и особенности
+
Глава 9. Маршруты проектирования цифровых микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 10. Основы логического проектирования КМОП-микросхем с пониженным энергопотреблением
+
Глава 11. Основы проектирования кибербезопасных микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
-
12.1. Методология организации технологического тестового контроля в процессе проектирования и производства микроэлектронных изделий
12.2. Принципы организации контроля процесса изготовления микросхем с использованием тестовых структур
12.3. Прогнозирование процента выхода годных микросхем по результатам тестового контроля
12.4. Типовая структура системы тестового контроля качества технологических процессов
12.5. Основные технологические факторы, влияющие на надежность микроэлектронных изделий
Литература к главе 12
Глава 13. Основные тенденции развития, проблемы и угрозы современной микроэлектроники
+
Глава 14. Технологии корпусирования микросхем
+
