Раздел 3 / 12

Страница 1 / 15

2. Основные радиационные эффекты в микросхемах

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Registration

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Методы и средства аппаратного обеспечения высокопроизводительных микропроцессорных систем

Table of contents

Введение

1. Основные ограничения создания высокопроизводительных микропроцессоров +

2. Основные радиационные эффекты в микросхемах -

2.1. Эффекты накопленной дозы

2.2. Одиночные сбои

2.3. Множественные сбои

2.4. Множественные сбои и биполярный эффект

2.5. Кратковременные переходные процессы

2.6. Одиночное защелкивание

2.7. Модель кратковременного переходного процесса

3. Основные методики повышения надежности микросхем

4. Тестирование и верификация микросхем +

5. Маршрут проектирования микросхем +

6. Архитектура микропроцессоров +

7. Организация подсистемы памяти +

8. Основные архитектуры параллельных ЭВМ +

9. Компьютерные сети +

Заключение

Литература