Справка
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
-
2.1. Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты(МУРЗ)
2.2. Модули аналоговых входов
2.3. Модули выходных реле
2.4. Модули цифровых (логических) входов
2.5. Модуль центрального процессора
2.5.1. Аналого-цифровой преобразователь (АЦП)
2.5.2. Память
2.5.3. Микропроцессор
2.6. Внутренний источник питания
2.7. Система самодиагностики МУРЗ
2.8. Новая концепция построения МУРЗ
Литература к главе II
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+
Close Menu
Раздел
3
/
5
Страница
1
/
100
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
-
2.1. Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты(МУРЗ)
2.2. Модули аналоговых входов
2.3. Модули выходных реле
2.4. Модули цифровых (логических) входов
2.5. Модуль центрального процессора
2.5.1. Аналого-цифровой преобразователь (АЦП)
2.5.2. Память
2.5.3. Микропроцессор
2.6. Внутренний источник питания
2.7. Система самодиагностики МУРЗ
2.8. Новая концепция построения МУРЗ
Литература к главе II
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+