Раздел 4 / 5

Страница 1 / 75

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения

/

Режим прокрутки

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

/

3.1. Мифы о надежности МУРЗ

Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 15 стр. из этой главы.

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

Скачать приложение

Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

Table of contents

Предисловие

Глава I. Элементная база +

Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты +

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения -

3.1. Мифы о надежности МУРЗ

3.1.1. Отсутствие в МУРЗ подвижных частей

3.1.2. Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле

3.1.3. Надежность и самодиагностика

3.1.3.1. Элементы памяти

3.1.3.2. Источник питания

3.1.3.3. Узел аналоговых входов

3.1.4. МУРЗ содержит меньшее количество элементов

3.1.5. Существование электроэнергетики сегодня невозможно без МУРЗ

3.1.6. Еще один класс проблем, о которых умалчивается

3.2. Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения

3.3. Логические входы: проблемы и решения

3.4. Реальные данные о надежности МУРЗ

3.5. Проблемы оценки надежности МУРЗ

Литература к главе III

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ +