Раздел 4 / 5

Страница 1 / 75

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

Оглавление

Предисловие

Глава I. Элементная база +

Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты +

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения -

3.1. Мифы о надежности МУРЗ

3.1.1. Отсутствие в МУРЗ подвижных частей

3.1.2. Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле

3.1.3. Надежность и самодиагностика

3.1.3.1. Элементы памяти

3.1.3.2. Источник питания

3.1.3.3. Узел аналоговых входов

3.1.4. МУРЗ содержит меньшее количество элементов

3.1.5. Существование электроэнергетики сегодня невозможно без МУРЗ

3.1.6. Еще один класс проблем, о которых умалчивается

3.2. Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения

3.3. Логические входы: проблемы и решения

3.4. Реальные данные о надежности МУРЗ

3.5. Проблемы оценки надежности МУРЗ

Литература к главе III

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ +