Раздел 9 / 10

Страница 1 / 2

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Registration

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов

Table of contents

ВВЕДЕНИЕ

1. ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАДИАЦИОННЫХ ИСПЫТАНИЙ И РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ

2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДИКИ И КОНСТРУКТИВНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСХЕМ

3. РАСЧЕТНО-ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДИКИ ОЦЕНКИ И ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ И РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ БЛОКОВ КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ PC МИКРОСХЕМ В РЕЖИМАХ, ПРИБЛИЖЕННЫХ К УСЛОВИЯМ ИХ ЭКСПЛУАТАЦИИ В РЭА КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

5. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКОЙ ТРЕНИРОВКИ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ И ОТБРАКОВКИ МИКРОСХЕМ С АНОМАЛЬНОЙ НАДЕЖНОСТЬЮ И РАДИАЦИОННОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬЮ

6. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ПОВЫШЕНИЯ PC КМОП МИКРОСХЕМ

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК