Раздел 2 / 6

Страница 1 / 22

1. Сканирующий туннельный микроскоп

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Нанотехнологии и микромеханика: Учеб. пособие. - Ч. 4: Зондовые нанотехнологии

Оглавление

Введение

1. Сканирующий туннельный микроскоп -

1.1. Теоретические основы сканирующей туннельной микроскопии

1.2. Режимы профилометрии сканирующего туннельного микроскопа

1.3. Режимы измерения электрофизических свойств образца

1.4. Состав, конструкция и работа сканирующего туннельного микроскопа

1.5. Области применения сканирующего туннельного микроскопа

1.6. Атомно-силовой микроскоп

2. Явления под зондами сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа

3. Зондовые нанотехнологии +

4. Нанотрубки в зондовой нанодиагностике

Список литературы