Справка
x
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Основы нанотехнологии
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Введение
Глава 1. Общие представления о нанотехнологии
+
Глава 2. Концептуальные проблемы нанотехнологии
+
Глава 3. Самоорганизация и синергетика в наномире
+
Глава 4. Специфические особенности и проблемы наномира
+
Глава 5. Методы исследования вещества в наноразмерном состоянии
-
5.1. Проблемы метрологии в наномире
5.2. Автоионный микроскоп
5.3. Рентгеновская микроскопия
5.4. Просвечивающая электронная микроскопия
5.5. Растровая электронная микроскопия. Общие представления
5.6. Механизмы формирования контраста в РЭМ
5.7. Электронная оже-спектроскопия
5.8. Рентгеновский микроанализ
5.9. Рентгеноструктурный анализ
5.10. Сканирующая туннельно-зондовая и атомно-силовая микроскопия
5.11. Микроскопия ближнего поля
Контрольные вопросы к главе 5
Цитируемая литература
Дополнительная литература
Close Menu
Раздел
7
/
9
Страница
87
/
88
Глава 5. Методы исследования вещества в наноразмерном состоянии
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Основы нанотехнологии
Оглавление
Предисловие
Введение
Глава 1. Общие представления о нанотехнологии
+
Глава 2. Концептуальные проблемы нанотехнологии
+
Глава 3. Самоорганизация и синергетика в наномире
+
Глава 4. Специфические особенности и проблемы наномира
+
Глава 5. Методы исследования вещества в наноразмерном состоянии
-
5.1. Проблемы метрологии в наномире
5.2. Автоионный микроскоп
5.3. Рентгеновская микроскопия
5.4. Просвечивающая электронная микроскопия
5.5. Растровая электронная микроскопия. Общие представления
5.6. Механизмы формирования контраста в РЭМ
5.7. Электронная оже-спектроскопия
5.8. Рентгеновский микроанализ
5.9. Рентгеноструктурный анализ
5.10. Сканирующая туннельно-зондовая и атомно-силовая микроскопия
5.11. Микроскопия ближнего поля
Контрольные вопросы к главе 5
Цитируемая литература
Дополнительная литература