Раздел 15 / 19

Страница 13 / 16

13. Повышение тестопригодноси СВТ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Основы теории надежности

Оглавление

Принятые сокращения и обозначения

Введение

1. Показатели и пути обеспечения надежности средств вычислительной техники +

2. Математический аппарат и модели надежности +

3. Расчет и оценка показателей надежности нерезервированных невосстанавливаемых объектов +

4. Показатели надежности восстанавливаемых объектов +

5. Анализ надежности невосстанавливаемых многоэлементных систем +

6. Анализ надежности систем со сложной структурой +

7. Оперативный аппаратный контроль ВС +

8. Задачи и виды технической диагностики +

9. Организация диагностирования вычислительных систем на макроуровне +

10. Организация диагностирования цифровых устройств на уровне функциональных модулей +

11. Сигнатурный анализ +

12. Алгоритмы диагностирования +

13. Повышение тестопригодноси СВТ -

13.1. Общие принципы повышения контролепригодности и тестопригодности СВТ

13.2. Метод сканирования

13.3. Разновидности метода сканирования

13.4. Повышение диагностируемости ВС на структурном уровне

13.5. Конденсация графа управляемости / наблюдаемости и выделение МСС-подграфов

14. Построение самопроверяемых СВТ +

15. Построение легкотестируемых схем +

Контрольные вопросы

Список литературы