Справка
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Раздел
4
/
5
Страница
3
/
75
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
-
3.1. Мифы о надежности МУРЗ
3.1.1. Отсутствие в МУРЗ подвижных частей
3.1.2. Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле
3.1.3. Надежность и самодиагностика
3.1.3.1. Элементы памяти
3.1.3.2. Источник питания
3.1.3.3. Узел аналоговых входов
3.1.4. МУРЗ содержит меньшее количество элементов
3.1.5. Существование электроэнергетики сегодня невозможно без МУРЗ
3.1.6. Еще один класс проблем, о которых умалчивается
3.2. Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
3.3. Логические входы: проблемы и решения
3.4. Реальные данные о надежности МУРЗ
3.5. Проблемы оценки надежности МУРЗ
Литература к главе III
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+
Close Menu
