Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Логарифмы в технических приложениях
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Раздел 1. Теория: коротко о главном
+
Раздел 2. Практика: как вычислять уровни в уме?
+
Раздел 3. Лабораторный практикум: измерения уровней
-
3.1. Общие замечания
3.2. Схема измерений
Упражнение 1. Демонстрация абсолютных уровней на различных частотах
Упражнение 2. Демонстрация абсолютных уровней на различных нагрузках
Упражнение 3. Определение выходного сопротивления источника сигнала
">
Глава 11. Применение лазерной фототермической радиометрии для исследования полупроводниковых материалов
-
11.1. Введение
11.2. Особенности применения метода для полупроводниковых материалов
11.3. Практическая реализация метода на примере МОП-структур
11.4. Измерение времени жизни носителей заряда и контроль наличия примесей
11.5. Метрология ионной имплантации
11.6. Выводы
Глава 12. Применение лазерной фототермической радиометрии для медицинской диагностики и лечения заболеваний
+
Заключение
Литература