Справка
x
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Основы проектирования субмикронных микросхем
Оборот титула
Оглавление
Вместо предисловия - дайджест
Введение
Глава 1. Физические основы работы полевых транзисторов
+
Глава 2. Особенности конструктивно-схемотехнического проектирования субмикронных микросхем
+
Глава 3. Основные характеристики цифровых микросхем
+
Глава 4. Схемотехнические решения цифровых КМОП-микросхем
+
Глава 5. Схемотехнические решения биполярных микросхем
+
Глава 6. Схемотехнические решения БиКМОП-микросхем
+
Глава 7. Особенности проектирования радиационностойких микросхем на основе КНС и КНИ-структур
+
Глава 8. Библиотеки проектирования субмикронных микросхем - структура и особенности
+
Глава 9. Маршруты проектирования цифровых микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 10. Основы логического проектирования КМОП-микросхем с пониженным энергопотреблением
+
Глава 11. Основы проектирования кибербезопасных микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
-
12.1. Методология организации технологического тестового контроля в процессе проектирования и производства микроэлектронных изделий
12.2. Принципы организации контроля процесса изготовления микросхем с использованием тестовых структур
12.3. Прогнозирование процента выхода годных микросхем по результатам тестового контроля
12.4. Типовая структура системы тестового контроля качества технологических процессов
12.5. Основные технологические факторы, влияющие на надежность микроэлектронных изделий
Литература к главе 12
Глава 13. Основные тенденции развития, проблемы и угрозы современной микроэлектроники
+
Глава 14. Технологии корпусирования микросхем
+
Close Menu
Раздел
14
/
16
Страница
1
/
37
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
/
/
12.1. Методология организации технологического тестового контроля в процессе проектирования и производства микроэлектронных изделий
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 7 стр. из этой главы.
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Основы проектирования субмикронных микросхем
Оглавление
Вместо предисловия - дайджест
Введение
Глава 1. Физические основы работы полевых транзисторов
+
Глава 2. Особенности конструктивно-схемотехнического проектирования субмикронных микросхем
+
Глава 3. Основные характеристики цифровых микросхем
+
Глава 4. Схемотехнические решения цифровых КМОП-микросхем
+
Глава 5. Схемотехнические решения биполярных микросхем
+
Глава 6. Схемотехнические решения БиКМОП-микросхем
+
Глава 7. Особенности проектирования радиационностойких микросхем на основе КНС и КНИ-структур
+
Глава 8. Библиотеки проектирования субмикронных микросхем - структура и особенности
+
Глава 9. Маршруты проектирования цифровых микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 10. Основы логического проектирования КМОП-микросхем с пониженным энергопотреблением
+
Глава 11. Основы проектирования кибербезопасных микросхем и систем-на-кристалле
+
Глава 12. Основы построения системы управления качеством изготовления субмикронных интегральных микросхем на базе тестовых структур
-
12.1. Методология организации технологического тестового контроля в процессе проектирования и производства микроэлектронных изделий
12.2. Принципы организации контроля процесса изготовления микросхем с использованием тестовых структур
12.3. Прогнозирование процента выхода годных микросхем по результатам тестового контроля
12.4. Типовая структура системы тестового контроля качества технологических процессов
12.5. Основные технологические факторы, влияющие на надежность микроэлектронных изделий
Литература к главе 12
Глава 13. Основные тенденции развития, проблемы и угрозы современной микроэлектроники
+
Глава 14. Технологии корпусирования микросхем
+