Электронная библиотечная система КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА
STUDENT'S CONSULTANT
Все издания
Accessibility
Раздел 13 / 23
Страница 4 / 66

Глава 10. Анализ общих проблем проектирования сверхбыстродействующих микроэлектронных изделий и систем на их основе

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.Режим постраничного просмотра
Для продолжения работы требуется Registration
+
Глава 12. Проблемы получения материалов для защиты интегральных микросхем от высокоскоростных потоков микрочастиц и пути их решения+
Глава 13. Методики и оборудование для исследования процессов взаимодействия высокоскоростных потоков микрочастиц с материалами+
Глава 14. Влияние воздействия высокоскоростных потоков микрочастиц+
Глава 15. Изменение структуры и свойств одно- и многослойных материалов при воздействии высокоскоростным потоком микрочастиц+
Глава 16. Особенности технологии изготовления многослойных защитных материалов для корпусов интегральных микросхем+
Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства+
Глава 18. Дизайн-киты (PDK) - структура и особенности их применения при проектировании изделий с субмикронными проектными нормами+
Глава 19. СВЧ-электроника для космических и военных приложений+
Глава 20. Вместо заключения+
+
Глава 12. Проблемы получения материалов для защиты интегральных микросхем от высокоскоростных потоков микрочастиц и пути их решения+
Глава 13. Методики и оборудование для исследования процессов взаимодействия высокоскоростных потоков микрочастиц с материалами+
Глава 14. Влияние воздействия высокоскоростных потоков микрочастиц+
Глава 15. Изменение структуры и свойств одно- и многослойных материалов при воздействии высокоскоростным потоком микрочастиц+
Глава 16. Особенности технологии изготовления многослойных защитных материалов для корпусов интегральных микросхем+
Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства+
Глава 18. Дизайн-киты (PDK) - структура и особенности их применения при проектировании изделий с субмикронными проектными нормами+
Глава 19. СВЧ-электроника для космических и военных приложений+
Глава 20. Вместо заключения+
+
Глава 12. Проблемы получения материалов для защиты интегральных микросхем от высокоскоростных потоков микрочастиц и пути их решения+
Глава 13. Методики и оборудование для исследования процессов взаимодействия высокоскоростных потоков микрочастиц с материалами+
Глава 14. Влияние воздействия высокоскоростных потоков микрочастиц+
Глава 15. Изменение структуры и свойств одно- и многослойных материалов при воздействии высокоскоростным потоком микрочастиц+
Глава 16. Особенности технологии изготовления многослойных защитных материалов для корпусов интегральных микросхем+
Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства+
Глава 18. Дизайн-киты (PDK) - структура и особенности их применения при проектировании изделий с субмикронными проектными нормами+
Глава 19. СВЧ-электроника для космических и военных приложений+
Глава 20. Вместо заключения+