Раздел 4 / 9

Страница 10 / 171

ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Нанометрология

Оглавление

СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ

ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. СТАНОВЛЕНИЕ НАНОИНДУСТРИИ И КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ +

ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ -

2.1. Методы и средства интерференционных измерений

2.2. Использование принципов микроскопии в наноизмерениях

2.2.1. Оптическая микроскопия

2.2.2. Электронная микроскопия

2.3. Сканирующая зондовая микроскопия

2.3.1. Виды сканирующей зондовой микроскопии

2.3.2. Сканирующий туннельный микроскоп

2.3.3. Атомно-силовой микроскоп

2.4. Разновидности ближнепольной микроскопии

2.5. Спектроскопия в нанометрологии

2.5.1. Общие сведения

2.5.2. Атомный спектральный метод

2.5.3. Молекулярные методы спектроскопии

2.5.4. Радиоспектроскопия

2.5.5. Ядерные методы спектроскопии

2.5.6. Электронная спектроскопия

2.5.7. Рентгеноспектроскопия

2.5.8. Лазерная спектроскопия

2.6. Хроматография в наноизмерениях

2.6.1. История и классификация методов хроматографии

2.6.2. Жидкостная хроматография

2.6.3. Газовая хроматография

2.7. Сравнительный анализ технических средств нанометрологии

ГЛАВА 3. НЕСТАБИЛЬНОСТЬ, ТОЧНОСТЬ И НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ НАНОИЗМЕРЕНИЙ +

ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ +

ГЛАВА 5. ОРГАНИЗАЦИОННЫЕ ОСНОВЫ НАНОМЕТРОЛОГИИ +

ПРИЛОЖЕНИЕ

ЛИТЕРАТУРА