Справка
x
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Нанометрология
Оборот титула
Оглавление
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. СТАНОВЛЕНИЕ НАНОИНДУСТРИИ И КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 3. НЕСТАБИЛЬНОСТЬ, ТОЧНОСТЬ И НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ НАНОИЗМЕРЕНИЙ
+
ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
-
4.1. Общие сведения
4.2. Рельефные меры для нанометрового диапазона
4.2.1. Классификация тест-объектов
4.2.2. Поверка рельефной меры
4.2.3. Калибровка рельефной меры
4.3. Измерительные растровые электронные микроскопы
4.3.1. Поверка растровых микроскопов
4.3.2. Стандартная калибровка растровых микроскопов
4.3.3. Калибровка растровых микроскопов по двум координатам
4.4. Атомно-силовые измерительные зондовые микроскопы
4.4.1. Поверка атомно-силовых микроскопов
4.4.2. Калибровка атомно-силовых микроскопов
4.4.3. Калибровка атомно-силовых микроскопов по трем координатам
4.5. Обеспечение единства измерений в лазерной технике, спектроскопии и хроматографии
4.5.1. Обеспечение единства измерений параметров лазерного излучения
4.5.2. Поверка и калибровка спектрометров
4.5.3. Поверка газовых хроматографов
4.5.4. Поверка жидкостных хроматографов
4.5.5. Контроль качества приготовления проб для химического анализа
ГЛАВА 5. ОРГАНИЗАЦИОННЫЕ ОСНОВЫ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ПРИЛОЖЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
Close Menu
Раздел
6
/
9
Страница
12
/
76
ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Нанометрология
Оглавление
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. СТАНОВЛЕНИЕ НАНОИНДУСТРИИ И КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 3. НЕСТАБИЛЬНОСТЬ, ТОЧНОСТЬ И НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ НАНОИЗМЕРЕНИЙ
+
ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
-
4.1. Общие сведения
4.2. Рельефные меры для нанометрового диапазона
4.2.1. Классификация тест-объектов
4.2.2. Поверка рельефной меры
4.2.3. Калибровка рельефной меры
4.3. Измерительные растровые электронные микроскопы
4.3.1. Поверка растровых микроскопов
4.3.2. Стандартная калибровка растровых микроскопов
4.3.3. Калибровка растровых микроскопов по двум координатам
4.4. Атомно-силовые измерительные зондовые микроскопы
4.4.1. Поверка атомно-силовых микроскопов
4.4.2. Калибровка атомно-силовых микроскопов
4.4.3. Калибровка атомно-силовых микроскопов по трем координатам
4.5. Обеспечение единства измерений в лазерной технике, спектроскопии и хроматографии
4.5.1. Обеспечение единства измерений параметров лазерного излучения
4.5.2. Поверка и калибровка спектрометров
4.5.3. Поверка газовых хроматографов
4.5.4. Поверка жидкостных хроматографов
4.5.5. Контроль качества приготовления проб для химического анализа
ГЛАВА 5. ОРГАНИЗАЦИОННЫЕ ОСНОВЫ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ПРИЛОЖЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА