Раздел 5 / 8

Страница 1 / 156

Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии

Оглавление

Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина

Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков

Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации +

Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии +

Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии -

3.1. Термины, определения и классификация объектов нанотехнологии и продукции наноиндустрии В.Н. Крутиков, В.В. Окрепилов, П.А. Тодуа

3.2. Методы и средства измерений в сфере нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, А.Ф. Котюк

3.3. Методики и средства измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне В.М. Лахов, П.А. Тодуа

3.4. Оптико-спектральные методы характеризации наночастиц А.Д. Левин, Е.М. Рукин

3.5. Метрологическое обеспечение нанотехнологий В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, В.С. Иванов, А.Ф. Котюк, Ф.В. Булыгин

3.6. Хроматографические методы анализа и их применение в наноиндустрии В.В. Бражников

Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии +

Заключение

Список основных сокращений