Раздел 5 / 10

Страница 1 / 14

4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ PC МИКРОСХЕМ В РЕЖИМАХ, ПРИБЛИЖЕННЫХ К УСЛОВИЯМ ИХ ЭКСПЛУАТАЦИИ В РЭА КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов

Оглавление

ВВЕДЕНИЕ

1. ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАДИАЦИОННЫХ ИСПЫТАНИЙ И РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ

2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДИКИ И КОНСТРУКТИВНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МИКРОСХЕМ

3. РАСЧЕТНО-ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДИКИ ОЦЕНКИ И ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ И РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ БЛОКОВ КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ PC МИКРОСХЕМ В РЕЖИМАХ, ПРИБЛИЖЕННЫХ К УСЛОВИЯМ ИХ ЭКСПЛУАТАЦИИ В РЭА КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

5. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКОЙ ТРЕНИРОВКИ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ И ОТБРАКОВКИ МИКРОСХЕМ С АНОМАЛЬНОЙ НАДЕЖНОСТЬЮ И РАДИАЦИОННОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬЮ

6. ЭФФЕКТИВНОСТЬ РАДИАЦИОННО-ТЕРМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ПОВЫШЕНИЯ PC КМОП МИКРОСХЕМ

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК