Раздел 4 / 6

Страница 1 / 16

3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия

/

Режим прокрутки

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

/

Введение

3.1 Физические принципы работы СЭМ

Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 3 стр. из этой главы.

На первую страницу

На предыдущую главу

На предыдущую страницу

На следующую страницу

На следующую главу

На последнюю страницу

Скачать приложение

Методы электронной микроскопии

Оглавление

Методы электронной микроскопии
Введение

1. Физические принципы работы электронной микроскопии. Взаимодействие электронного пучка с веществом +

2. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)+

3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия -

Введение

3.1 Физические принципы работы СЭМ

3.2 Глубина проникновения электронов в твердое тело

3.3 Формирование изображения в сканирующей электронной микроскопии

3.4 Контраст изображения во вторичных электронах

3.5 Контраст изображения в отраженных электронах

3.6 Кристаллографический и магнитный типы контрастов

3.7 Экспериментальное оборудование

Приложение

Список литературы