Раздел 4 / 6

Страница 1 / 16

3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Методы электронной микроскопии

Оглавление

Методы электронной микроскопии
Введение

1. Физические принципы работы электронной микроскопии. Взаимодействие электронного пучка с веществом +

2. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)+

3. Сканирующая электронная (растровая) микроскопия -

Введение

3.1 Физические принципы работы СЭМ

3.2 Глубина проникновения электронов в твердое тело

3.3 Формирование изображения в сканирующей электронной микроскопии

3.4 Контраст изображения во вторичных электронах

3.5 Контраст изображения в отраженных электронах

3.6 Кристаллографический и магнитный типы контрастов

3.7 Экспериментальное оборудование

Приложение

Список литературы