Справка
x
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Входной и технологический контроль материалов и структур в твердотельной СВЧ электронике (лабораторные работы)
Оборот титула
Table of contents
Лабораторная работа № 1. Измерение удельного сопротивления пластин, эпитаксиальных и металлизационных слоев четырехзондовым методом
Лабораторная работа № 2. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению высокочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 3. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению низкочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 4. Определение профиля распределения примесей по измерению вольт-фарадных характеристик диодов Шотки
Лабораторная работа № 5. Определение сопротивления, концентрации и подвижности двумерного электронного газа в полупроводниковых гетероструктурах методом Ван-дер-Пау
Лабораторная работа № 6. Контроль толщины кремния в КНС- и КНИ-структурах
Лабораторная работа № 7 Определение структурных дефектов в полупроводниковых материалах
Лабораторная работа № 8. Метод рентгеновской дифрактометрии
Лабораторная работа № 9. Метод растровой электронной микроскопии
Лабораторная работа № 10. Построение карт "желтой" фотолюминесценции гетероструктур AlGaN/GaN
Лабораторная работа № 11. Контроль полупроводниковых структур при помощи микроинтерферометра МИИ-4
Лабораторная работа № 12. Определение параметров диэлектрических покрытий методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 13. Определение оптических констант металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 14. Определение толщины тонких металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 15. Определение структурных дефектов в пластинах SiC поляризационным методом
Close Menu
Раздел
3
/
15
Страница
1
/
4
Лабораторная работа № 3. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению низкочастотных вольт-фарадных характеристик
/
/
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 20 стр. из этой главы.
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Входной и технологический контроль материалов и структур в твердотельной СВЧ электронике (лабораторные работы)
Table of contents
Лабораторная работа № 1. Измерение удельного сопротивления пластин, эпитаксиальных и металлизационных слоев четырехзондовым методом
Лабораторная работа № 2. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению высокочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 3. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению низкочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 4. Определение профиля распределения примесей по измерению вольт-фарадных характеристик диодов Шотки
Лабораторная работа № 5. Определение сопротивления, концентрации и подвижности двумерного электронного газа в полупроводниковых гетероструктурах методом Ван-дер-Пау
Лабораторная работа № 6. Контроль толщины кремния в КНС- и КНИ-структурах
Лабораторная работа № 7 Определение структурных дефектов в полупроводниковых материалах
Лабораторная работа № 8. Метод рентгеновской дифрактометрии
Лабораторная работа № 9. Метод растровой электронной микроскопии
Лабораторная работа № 10. Построение карт "желтой" фотолюминесценции гетероструктур AlGaN/GaN
Лабораторная работа № 11. Контроль полупроводниковых структур при помощи микроинтерферометра МИИ-4
Лабораторная работа № 12. Определение параметров диэлектрических покрытий методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 13. Определение оптических констант металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 14. Определение толщины тонких металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 15. Определение структурных дефектов в пластинах SiC поляризационным методом