Справка
x
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Accessibility
General Catalogue
Все издания
Menu
Искать в книге
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Login/Registration
Во весь экран / Свернуть
ru
Управление
My reports
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур
Оборот титула
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз
-
3.1. Термические напряжения
3.2. Деформации, вызванные точечными дефектами
3.3. Напряжения несоответствия
3.3.1. Наиболее распространенные объекты со структурным несоответствием
3.3.2. Описание структурных соотношений в эпитаксиальной системе
3.3.3. Основные уравнения теории упругости в гетероструктурах
4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций
+
5. Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлектометрия)
+
6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Close Menu
Раздел
4
/
9
Страница
1
/
23
3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Registration
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз
-
3.1. Термические напряжения
3.2. Деформации, вызванные точечными дефектами
3.3. Напряжения несоответствия
3.3.1. Наиболее распространенные объекты со структурным несоответствием
3.3.2. Описание структурных соотношений в эпитаксиальной системе
3.3.3. Основные уравнения теории упругости в гетероструктурах
4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций
+
5. Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлектометрия)
+
6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев
+
Заключение
Библиографический список