Раздел 7 / 9

Страница 1 / 9

6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Registration

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур

Table of contents

Введение

1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей

2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения +

3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз +

4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций +

5. Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлектометрия)+

6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев -

6.1. Ионно-имплантированные структуры

6.2. Сверхрешетки типа Si/Si1-xGex

Заключение

Библиографический список