Справка
x
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии
+
Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
+
Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах
+
Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
+
Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
+
Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
+
Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
+
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
-
1. Введение
2. Генераторы шаблонов, встроенные в приборы ФИП
3. Травление с помощью ФИП либо ХГФО пленок по двумерным шаблонам с программируемой дозой
4. Нанесение рисунка электронным лучом с помощью встроенных генераторов шаблонов
5. Автоматизация наноразмерного управления пучком
6. Непосредственное изготовление наноразмерных структур
7. Выводы
Литература
Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки
+
Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства
+
Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки
+
Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов
+
Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
+
Глава 14. Бионаноматериалы
+
Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
+
Предметный указатель
Close Menu
Раздел
10
/
18
Страница
12
/
14
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Оглавление
Предисловие
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии
+
Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
+
Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах
+
Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
+
Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
+
Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
+
Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
+
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
-
1. Введение
2. Генераторы шаблонов, встроенные в приборы ФИП
3. Травление с помощью ФИП либо ХГФО пленок по двумерным шаблонам с программируемой дозой
4. Нанесение рисунка электронным лучом с помощью встроенных генераторов шаблонов
5. Автоматизация наноразмерного управления пучком
6. Непосредственное изготовление наноразмерных структур
7. Выводы
Литература
Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки
+
Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства
+
Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки
+
Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов
+
Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
+
Глава 14. Бионаноматериалы
+
Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
+
Предметный указатель
