Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. Лабораторные практикумы. Кн. 1. Цифровая схемотехника
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Введение
Термины, определения и сокращения
1. Знакомство со средой САПР БИС "Ковчег 3.04"
2. Комбинационные схемы
3. Триггерные устройства
4. Параллельные регистры
5. Делители частоты
6. Синхронные счётчики
7. Асинхронные счётчики
<="n>
/div>
ow-right-tab"> -right-tab"> ight-tab"> t-tab"> tab"> b"> "https://prior.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngtps://prior.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngs://prior.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.png//prior.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngprior.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.png.studentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngtudentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngdentlibrary.ru/patrns/book_read/to_next_page_gr.pngitlele">
iv>
>
ook_read/to_next_chapter.pngk_read/to_next_chapter.pngread/to_next_chapter.pngad/to_next_chapter.png/to_next_chapter.pngo_next_chapter.pngnext_chapter.png_chapter.pnghapter.pngpter.png.pngngltдующую главуующую главующую главущую главуую главую главуследующую главуледующую главуедующую главудующую главуующую главующую главую главу главуглаву reffor.studentlibrary.ru/ru/doc/ISBN9785948365817-SCN0010/024.html.studentlibrary.ru/ru/doc/ISBN9785948365817-SCN0010/024.htmltudentlibrary.ru/ru/doc/ISBN9785948365817-SCN0010/024.htmlю страницу страницустраницутраницураницуаницуницуцууitleа последнюю страницунюю страницуюю страницую страницу страницутраницураницуdiv>
v>
div>
div>
v class="pagination-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
class="pagination-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
ass="pagination-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
agination-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
ination-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
ation-book circle animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
animated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
nimated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
mated-effect wrap-set-bmark-div wrap-speaker">
ие недоступное недоступно недоступноедоступнодоступнооступноступноупнопноноо" ps://prior.studentlibrary.ru/patrns/bookmark_gr.png/prior.studentlibrary.ru/patrns/bookmark_gr.pngprior.studentlibrary.ru/patrns/bookmark_gr.pngiv>v>ания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
ния и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
ания книги перейдите в режим постраничного просмотра.
ия книги перейдите в режим постраничного просмотра.
ия книги перейдите в режим постраничного просмотра.
e=остраничного просмотратраничного просмотраss="film-wrapper table-responsive">="film-wrapper table-responsive">ble-responsive">e-responsive">icker'>
ker'>
'>
x !important;background:url('https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } !important;background:url('https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } mportant;background:url('https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } rtant;background:url('https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } ant;background:url('https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } 'https://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } ttps://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } ://prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } /prior.studentlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } ntlibrary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } library.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } brary.ru/patrns/loader.gif') no-repeat; } gif') no-repeat; } f') no-repeat; } ) no-repeat; } no-repeat; } eg_sticker' class="con-15w fw-b">
Для продолжения работы требуется
Регистрация
g_sticker' class="con-15w fw-b">
Для продолжения работы требуется
Регистрация
enter">
Регистрация
ter">
Регистрация
r">
Регистрация
>
Регистрация
n>Регистрация
Регистрация
егистрация
indow.onbeforeunload = function(e) { nitifyfbm(); };dow.onbeforeunload = function(e) { nitifyfbm(); };w.onbeforeunload = function(e) { nitifyfbm(); };onbeforeunload = function(e) { nitifyfbm(); };foreunload = function(e) { nitifyfbm(); };reunload = function(e) { nitifyfbm(); };load = function(e) { nitifyfbm(); };ad = function(e) { nitifyfbm(); }; = function(e) { nitifyfbm(); }; criptipttРежим постраничного просмотра">
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Входной и технологический контроль материалов и структур в твердотельной СВЧ электронике (лабораторные работы)
Оглавление
Лабораторная работа № 1. Измерение удельного сопротивления пластин, эпитаксиальных и металлизационных слоев четырехзондовым методом
Лабораторная работа № 2. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению высокочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 3. Определение параметров структур "металл-диэлектрик-полупроводник" (МДП) по измерению низкочастотных вольт-фарадных характеристик
Лабораторная работа № 4. Определение профиля распределения примесей по измерению вольт-фарадных характеристик диодов Шотки
Лабораторная работа № 5. Определение сопротивления, концентрации и подвижности двумерного электронного газа в полупроводниковых гетероструктурах методом Ван-дер-Пау
Лабораторная работа № 6. Контроль толщины кремния в КНС- и КНИ-структурах
Лабораторная работа № 7 Определение структурных дефектов в полупроводниковых материалах
Лабораторная работа № 8. Метод рентгеновской дифрактометрии
Лабораторная работа № 9. Метод растровой электронной микроскопии
Лабораторная работа № 10. Построение карт "желтой" фотолюминесценции гетероструктур AlGaN/GaN
Лабораторная работа № 11. Контроль полупроводниковых структур при помощи микроинтерферометра МИИ-4
Лабораторная работа № 12. Определение параметров диэлектрических покрытий методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 13. Определение оптических констант металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 14. Определение толщины тонких металлических пленок методом эллипсометрии
Лабораторная работа № 15. Определение структурных дефектов в пластинах SiC поляризационным методом