Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
-
2.1. Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты(МУРЗ)
2.2. Модули аналоговых входов
2.3. Модули выходных реле
2.4. Модули цифровых (логических) входов
2.5. Модуль центрального процессора
2.5.1. Аналого-цифровой преобразователь (АЦП)
2.5.2. Память
2.5.3. Микропроцессор
2.6. Внутренний источник питания
2.7. Система самодиагностики МУРЗ
2.8. Новая концепция построения МУРЗ
Литература к главе II
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+
Close Menu
Раздел
3
/
5
Страница
1
/
100
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оглавление
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
-
2.1. Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты(МУРЗ)
2.2. Модули аналоговых входов
2.3. Модули выходных реле
2.4. Модули цифровых (логических) входов
2.5. Модуль центрального процессора
2.5.1. Аналого-цифровой преобразователь (АЦП)
2.5.2. Память
2.5.3. Микропроцессор
2.6. Внутренний источник питания
2.7. Система самодиагностики МУРЗ
2.8. Новая концепция построения МУРЗ
Литература к главе II
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+