Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Раздел
4
/
5
Страница
1
/
75
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
-
3.1. Мифы о надежности МУРЗ
3.1.1. Отсутствие в МУРЗ подвижных частей
3.1.2. Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле
3.1.3. Надежность и самодиагностика
3.1.3.1. Элементы памяти
3.1.3.2. Источник питания
3.1.3.3. Узел аналоговых входов
3.1.4. МУРЗ содержит меньшее количество элементов
3.1.5. Существование электроэнергетики сегодня невозможно без МУРЗ
3.1.6. Еще один класс проблем, о которых умалчивается
3.2. Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
3.3. Логические входы: проблемы и решения
3.4. Реальные данные о надежности МУРЗ
3.5. Проблемы оценки надежности МУРЗ
Литература к главе III
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+
Close Menu
