Справка
x
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
+
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
-
6.1. Теоретическая часть
6.2. Расчетная часть
6.3. Экспериментальная часть
6.4. Контрольные вопросы
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
Close Menu
Раздел
3
/
4
Страница
8
/
10
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
Оглавление
Предисловие
Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ
+
Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ
-
6.1. Теоретическая часть
6.2. Расчетная часть
6.3. Экспериментальная часть
6.4. Контрольные вопросы
Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ
+
