Раздел 4 / 4

Страница 13 / 16

Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

Скачать приложение

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"

Оглавление

Предисловие

Работа № 5. Измерение спектра электронных состояний в наноматериалах с помощью СТМ +

Работа № 6. Измерение эффективной работы выхода квазижидких нанослоев с помощью СТМ +

Работа № 7. Измерение шумовых и фрактальных характеристик квазижидких нанослоев с помощью СТМ -

7.1. Теоретическая часть

7.2. Расчетная часть

7.3. Экспериментальная часть

7.4. Контрольные вопросы