Справка
ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
Электронная библиотека технического вуза
Все издания
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Версия для слабовидящих
Каталог
Все издания
Меню
Искать в книге
К результату поиска
Расширенный поиск
Закладки
На главную
Вход / регистрация
Во весь экран / Свернуть
en
Раздел
5
/
5
Страница
5
/
85
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
/
/
Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Управление
Мои отчеты
Каталог
Издательства
УГС
Мои списки
Скачать приложение
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Оборот титула
Оглавление
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
-
4.1. Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
4.2. Грозовые разряды
4.3. Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
4.4. Проблемы экранирования контрольных кабелей
4.5. Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
4.6. Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
4.7. Качество напряжения в питающей сети
4.8. Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
4.8.1. Актуализация проблемы электромагнитной совместимости для современной электроэнергетики
4.8.2. Классификация и особенности преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий
4.8.3. Воздействие ПДЭВ на МУРЗ
4.8.4. Возможные пути решения проблемы защиты МУРЗ от ЭМИ
4.8.5. Повышение живучести МУРЗ
4.9. Кибербезопасность
Литература к главе IV
Close Menu