Раздел 5 / 5

Страница 31 / 85

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется Регистрация

На предыдущую главу

Скачать приложение

Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

Оглавление

Предисловие

Глава I. Элементная база +

Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты +

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения +

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ -

4.1. Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям

4.2. Грозовые разряды

4.3. Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования

4.4. Проблемы экранирования контрольных кабелей

4.5. Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока

4.6. Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе

4.7. Качество напряжения в питающей сети

4.8. Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия

4.8.1. Актуализация проблемы электромагнитной совместимости для современной электроэнергетики

4.8.2. Классификация и особенности преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий

4.8.3. Воздействие ПДЭВ на МУРЗ

4.8.4. Возможные пути решения проблемы защиты МУРЗ от ЭМИ

4.8.5. Повышение живучести МУРЗ

4.9. Кибербезопасность

Литература к главе IV